? 溫度測(cè)量范圍從50℃到1800℃
? 采用2.3μm短波段的探測(cè)器,適用于金屬和陶瓷材料加工
? 微型探頭設(shè)計(jì),直徑14mm和28mm的長(zhǎng)度適合任何場(chǎng)合
? 無(wú)須冷卻可耐85℃的環(huán)境溫度
? 可以測(cè)量50℃以上的金屬表面溫度
? *短波段的探測(cè)器可以有效降低發(fā)射率設(shè)置導(dǎo)致的測(cè)量偏差
溫度范圍：（可通過(guò)設(shè)置鍵或軟件來(lái)調(diào)節(jié)，目標(biāo)溫度＞探頭環(huán)境溫度+25℃）
50～400℃(3ML)                  
100～600℃(3MH)
150～1000℃(3MH1)
200～1500℃(3MH2)  
250～1800℃(3MH3)
光譜響應(yīng)：2.3μm
系統(tǒng)精度：±(0.3%讀數(shù)+2℃)（發(fā)射率=1,響應(yīng)時(shí)間為1s；環(huán)溫23±5℃）
響應(yīng)時(shí)間：1ms
光學(xué)分辨率：22:1(3ML) 、  33:1(3MH)、 75:1(3MH1-H3)