復(fù)合絕緣子的“在運(yùn)行電壓和模擬氣候條件下的老化試驗(yàn)”是國際大電網(wǎng)會(huì)議通過的，以IEC1109-91附錄C確定下來的國際通用性試驗(yàn)項(xiàng)目，近年來對該試驗(yàn)經(jīng)各國研究部門和試驗(yàn)單位長期研究和摸索認(rèn)為，通過5000h試驗(yàn)而外絕緣沒有嚴(yán)重?fù)p壞的復(fù)合絕緣子產(chǎn)品，其外絕緣在產(chǎn)品相當(dāng)長運(yùn)行時(shí)間內(nèi)仍維持良好的性能。日本研究部門對5000h試驗(yàn)過的復(fù)合絕緣子與實(shí)際運(yùn)行加以對比，推算出復(fù)合絕緣子外絕緣運(yùn)行壽命相當(dāng)25年以上。 　　3.2耐漏電起痕和電蝕損試驗(yàn)是模擬復(fù)合絕緣子外絕緣表面泄漏電流的加速老化試驗(yàn)。對其外絕緣材料延續(xù)使用較為嚴(yán)酷的，檢驗(yàn)暴露污穢環(huán)境下絕緣材料漏電時(shí)損壞絕緣表面程度的耐漏電起痕試驗(yàn)，已成為復(fù)合絕緣子外絕緣材料耐電蝕老化的有效方法。經(jīng)試驗(yàn)機(jī)理分析可以認(rèn)為，通過該試驗(yàn)，復(fù)合絕緣子外絕緣就能夠在較長運(yùn)行過程中不至被表面泄漏電流所損壞。對產(chǎn)品的外絕緣所進(jìn)行的鹽霧法試驗(yàn)，是按著產(chǎn)品實(shí)際絕緣結(jié)構(gòu)尺寸和實(shí)際運(yùn)行方式，以鹽霧污染形式對其進(jìn)行1000h試驗(yàn)。該試驗(yàn)是隨著復(fù)合絕緣子的出現(xiàn)而確定的試驗(yàn)項(xiàng)目，是最接近復(fù)合絕緣子產(chǎn)品運(yùn)行實(shí)際情況所進(jìn)行的電氣老化試驗(yàn)。凡是通過1000h鹽霧法電老化試驗(yàn)的外絕緣沒有明顯電蝕痕跡的復(fù)合絕緣子產(chǎn)品，在任何自然環(huán)境條件長期運(yùn)行，都可以保證其外絕緣耐電蝕的穩(wěn)定性。